Overtoon exhibition

Acoustic Phenomena and Applications of Acoustics

Jeudi 25 avril, 20:00 - 22:00

Les ondes acoustiques sont omniprésentes dans notre vie quotidienne, mais ce n’est qu’occasionnellement que l’on s’en demande le pourquoi et le comment. Dans sa présentation, Glorieux démontrera que même les événements acoustiques ordinaires et notre perception de ceux-ci, sont dirigés par une combinaison fascinante de lois et de phénomènes physiques. Nous observerons comment le filtrage acoustique se produit dans la plupart des scénarios acoustiques, ainsi que la manière dont cela peut mener à des phénomènes sonores exotiques.

Nous mettrons en lumière l’énergie véhiculée par les ondes acoustiques et étudierons si cette énergie peut être exploitée. Nous discuterons les mécanismes de contrôle de la propagation et de la réflexion du son et nous aborderons la physique qui se cache derrière une série de phénomènes acoustiques particuliers (le son de l’oiseau quetzal à la pyramide de Chichen Itza, l’effet photo acoustique, l’effet magneto acoustique, le trou noir acoustique) ainsi qu’une série d’applications sonores (la lévitation sonore, les moteurs acoustiques, la réfrigeration acoustique, la localisation de source sonore, l’auto-localisation).

 
A propos de Prof. Dr. Christ Glorieux (1965)

Christ Glorieux est Professeur Associé à l’ATF, le laboratoire de Physique Acoustique et Thermique au Département de Physique et d’Astronomie de K.U. Leuven. Il a obtenu son doctorat en 1994 sur le sujet “Depth profiling of inhomogeneous materials and study of the critical behavior of gadolinium by photo acoustic and related techniques”.

Glorieux est actuellement actif dans la recherche et l’enseignement. Il dirige une groupe de recherche dans le domaine des applications photo thermiques et des lasers ultrasoniques pour l’étude fondamentale des propriétés physiques thermiques des matières hétérogènes et molles complexes, le dévelopement de techniques de mesure pour la charactérisation et l’analyse de structures stratifiées fines (sub-micron), ainsi que l’évaluation non-destructive.

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